產品介紹

自動銀粉比表面與孔徑分析儀

BETA201A

一、適用范圍及功能

1）自動銀粉比表面與孔徑分析儀，適用產(chan)品多：包(bao)括(kuo)測(ce)量(liang)建(jian)材、石(shi)墨、電池材料(liao)、沸石(shi)、碳材料(liao)、分子篩、二氧(yang)化(hua)鋁(lv)、土壤、有機化(hua)合物(wu)等(deng)(deng)粉體以及各(ge)種(zhong)塊材、片材、高分子纖(xian)維等(deng)(deng)。

2）功能強大(da)(da)，包(bao)含目前所有的(de)(de)數(shu)據處理方法：單點和(he)多點BET比表(biao)面(mian)積(ji)(ji)。Langmuir比表(biao)面(mian)積(ji)(ji)。粒度(du)估算和(he)真(zhen)密度(du)測試(shi)、孔(kong)隙率及孔(kong)隙度(du)分(fen)(fen)析。吸、脫附等(deng)溫線分(fen)(fen)析。BJH中孔(kong)和(he)大(da)(da)孔(kong)的(de)(de)孔(kong)體積(ji)(ji)，孔(kong)面(mian)積(ji)(ji)對孔(kong)徑的(de)(de)分(fen)(fen)布，總孔(kong)體積(ji)(ji)等(deng)。可以加t-plots微(wei)孔(kong)分(fen)(fen)析，as-plots微(wei)孔(kong)分(fen)(fen)析，MP微(wei)孔(kong)分(fen)(fen)析等(deng)。可以進行(xing)微(wei)孔(kong)DR理論(lun)、HK狹縫孔(kong)理論(lun)、SF圓柱形(xing)孔(kong)理論(lun)分(fen)(fen)析，可加DFT密度(du)函數(shu)理論(lun)，包(bao)括(kuo)NLDFT等(deng)。

二、軟件功能:

1)可以(yi)選擇USB連(lian)接(jie)或(huo)網(wang)口連(lian)接(jie)方式，網(wang)口連(lian)接(jie)可以(yi)實(shi)現(xian)遠程(cheng)控(kong)制(zhi)儀器、遠程(cheng)診斷故障(zhang)，可以(yi)通過路由器實(shi)現(xian)一臺(tai)電(dian)腦多臺(tai)設備操(cao)控(kong)，為客(ke)戶節省資(zi)源。

2)優(you)化的真(zhen)空(kong)泵(beng)啟停管理系(xi)統，在(zai)測試過程(cheng)中真(zhen)空(kong)泵(beng)無需(xu)一直處于運(yun)行狀態，減小噪音，延長，真(zhen)空(kong)泵(beng)壽命。

3)自動恢復大氣(qi)壓功能，方便樣品(pin)拆(chai)卸，并保證不(bu)會出現樣品(pin)飛濺。

4)自動高(gao)真空檢測系統，確保(bao)測試均(jun)在高(gao)真空環境(jing)下(xia)進行，確保(bao)測試結果的準確性。

5)自動應急(ji)處理(li)系統，能夠保證(zheng)突然(ran)(ran)停電、石英管破碎等突發偶(ou)然(ran)(ran)情況下儀器自動恢復(fu)正常。

6)強大(da)的(de)(de)數據庫，存儲(chu)有多達(da)幾十種測試(shi)模(mo)式，客戶(hu)也可(ke)以根(gen)據自(zi)身(shen)(shen)需要建(jian)立更符合自(zi)身(shen)(shen)產品的(de)(de)測試(shi)模(mo)式，對產品進行更精確(que)的(de)(de)測試(shi)。

7)斷電后(hou)，測試(shi)系統(tong)恢復功能(neng)。比(bi)表(biao)面積及孔徑分析(xi)時，真空脫氣過程相(xiang)當(dang)漫長，在進行(xing)測試(shi)時，突然停(ting)電，中斷測試(shi)是一件非常痛苦而無奈的事情(qing)。不僅損失掉數(shu)據、還(huan)會耽誤科研進程，這項(xiang)功能(neng)在此(ci)時顯得(de)特別重要。

8)可(ke)以(yi)(yi)進行PDF電(dian)子(zi)版(ban)打印(yin)及Excel數(shu)據導出(chu)，以(yi)(yi)及各種(zhong)理論(lun)數(shu)據選擇打印(yin)。還可(ke)以(yi)(yi)進行不同時間、相同樣(yang)品、相同測試模式數(shu)據和分布(bu)曲(qu)線對照查(cha)看和打印(yin)功(gong)能。

9)可以(yi)進行中英界(jie)面操作測試(shi)(shi)和中英文界(jie)面打印測試(shi)(shi)報告。