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產品詳細頁
GCSTD工頻介電常數及介質損耗測試儀

GCSTD工頻介電常數及介質損耗測試儀

  • 產品型號:GCSTD-CII
  • 更新時間:2024-03-18
  • 產品(pin)介紹:GCSTD工頻介電常數及介質損耗測試儀是一種*的測量介質損耗(tgδ)和電容容量(Cx)的儀器,測量各種絕緣材料、絕緣套管、絕緣液體、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗(tgδ)和電容容量(Cx)。具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓,抗干擾能力強, 測試時間短等優點。
  • 在線留言 /57223838

產品介紹


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GCSTD-CIIGCSTD工頻介電常數及介質損耗測試儀

滿足標準:

GB/T1409-2006 測量(liang)電(dian)氣絕緣材(cai)料在工頻(pin)、音頻(pin)、高頻(pin)下電(dian)容率和介質損耗因數的推(tui)薦方(fang)法

GB/T 5654-2007 液體絕(jue)緣(yuan)材(cai)料 相對電容率(lv)、介質損耗因數和直流電阻(zu)率(lv)的測量(liang)

GB/T 21216-2007 絕(jue)緣液體(ti) 測(ce)量電(dian)導和電(dian)容確定介質損(sun)耗因數的試驗方法

GB/T 1693-2007 硫化(hua)橡膠 介(jie)電常數(shu)和介(jie)質損耗角正切值的測定(ding)方(fang)法(fa)

GB/T 5594.4-1985__電(dian)子(zi)元器件結(jie)構陶瓷材料性能測試方法__介質損耗(hao)角正切值的(de)測試方法

……………………………………………………………………………………………

一、產品概述

GCSTD工頻介電常數及介質損耗測試儀,是一種*的測(ce)量(liang)(liang)介質損(sun)耗(tgδ)和電容容量(liang)(liang)(Cx)的儀(yi)器(qi),測(ce)量(liang)(liang)各種絕(jue)緣(yuan)(yuan)材料、絕(jue)緣(yuan)(yuan)套管(guan)、絕(jue)緣(yuan)(yuan)液體、電力(li)(li)電纜、電容器(qi)、互感器(qi)、變壓(ya)器(qi)等(deng)高(gao)壓(ya)設備的介質損(sun)耗(tgδ)和電容容量(liang)(liang)(Cx)。具有操作簡單、中文顯示(shi)、打印、使用方便、無需換算、自帶高(gao)壓(ya),抗(kang)干擾能(neng)力(li)(li)強, 測(ce)試時間短等(deng)優點。

本(ben)測試(shi)儀采用變頻電源(yuan)技術,利(li)用單片機和(he)電子技術進行自動頻率變換、模/數(shu)轉換和(he)數(shu)據運算,達到抗干擾能(neng)力強、測試(shi)速度(du)快、精(jing)度(du)高、操作簡便的(de)功能(neng)。

二、性能特點

1、儀器測量(liang)準確度高(gao),可滿足油(you)介(jie)損(sun)測量(liang)要求,因此只(zhi)需配(pei)備(bei)標準油(you)杯,和專用測試線即(ji)可實現油(you)介(jie)損(sun)測量(liang)。

2、采(cai)用變頻技術(shu)來消除現場50Hz工頻干(gan)擾,即(ji)使在強(qiang)電(dian)磁(ci)干(gan)擾的環境下(xia)也能測(ce)得可靠的數據。

3、過流保護(hu)功能,在試品(pin)短路或(huo)擊穿時儀器不受損(sun)壞。

4、內附標準(zhun)電(dian)容和(he)高(gao)壓電(dian)源,便(bian)于現(xian)場測(ce)試,減少現(xian)場接線。

5、儀(yi)器(qi)采用(yong)大屏幕液晶顯示(shi)器(qi),測試過(guo)程通(tong)過(guo)漢字菜單提(ti)示(shi)既直觀又便于操作。

三、技術指標

技術指標

1、試(shi)驗(yan)環境溫度:10℃~30℃(LCD液晶屏應避免長(chang)時間日(ri)照)

2、相對濕度(du):20%~80%

3、供電電源:電壓(ya):220V±10%

4、外(wai)形尺(chi)寸:長*寬*高=470mm*320mm*360mm

5、重量:16kg

6、輸(shu)出功率:1.5KVA

7、顯示分辨率(lv):3位、4位(內部全是6位)

8、測試(shi)方(fang)法(fa)(fa)(fa)(fa):正接(jie)法(fa)(fa)(fa)(fa)、反接(jie)法(fa)(fa)(fa)(fa)、外接(jie)試(shi)驗(yan)電壓法(fa)(fa)(fa)(fa)

9、測量范圍(wei):內(nei)接試驗(yan)電壓:

tgδ:99.9%

Cx :30 pF<Cx(10KV)<60000 pF

10KV  Cx<60000 pF

5KV   Cx<80000 pF

2.5KV  Cx<0.3uF

外接試驗電壓:

由外(wai)接試驗變壓器輸出功(gong)率而定

10、基本測(ce)量誤差:介質損耗(tgδ):1%±0.09%

電容容量(liang)(Cx):1.5%±1pF

11、分(fen)辨(bian)率: tgδ:0.01%

Cx :0.1pF

12、儀器(qi)為升壓與測(ce)量一體化結構,輸出電壓2.5KV~10KV五(wu)檔可調(diao)

13、試樣要求:直徑為50MM、100MM、38MM







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