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電壓擊穿試驗儀,電阻率測試儀,介電常數測試儀,漏電起痕試驗儀,耐電弧試驗儀、介電溫譜測量系統、熱刺激電流測量系統
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產品詳細頁
新款DRD電弱點測試儀

新款DRD電弱點測試儀

  • 產品型(xing)號:DRD-10KV
  • 更新時(shi)間:2023-11-16
  • 產品(pin)介紹:新款DRD電弱點測試儀,本儀器方式為微機控制,卷膜移動速度可設定,按照設定的升壓速率升壓,達到設定的電壓后,實時記錄當前的電壓值和電流值,并能夠實時記錄當前的擊穿點,試驗結束后自動歸零,自動統計電弱點數、電弱線數,自動計算每平方米的電弱點數。
    本儀器自動化程度高,操作簡單、安裝卷膜方便、落地式結構方便操作。
  • 在線留言 /57223838

產品介紹

新款DRD電弱點測試儀

DRD-10KV

新款DRD電弱點測試儀

•產品型號:DRD-10KV

•執行標準:GB_T 13542.2-2009 IEC 60674-2:1988-電氣絕緣用薄膜 第(di)2部分試驗方法

產品用途:

該儀器(qi)主要用于(yu)電(dian)氣用聚氨脂(zhi)薄(bo)膜、塑料薄(bo)膜、聚丙稀(xi)薄(bo)膜等絕緣(yuan)材料在(zai)給定(ding)直流(liu)電(dian)壓(ya)下自(zi)動升壓(ya)測定(ding)每平方(fang)米的擊穿點數。

本儀器方(fang)式為微機控制,卷膜移動速(su)度可設定(ding),按照設定(ding)的升壓(ya)速(su)率(lv)升壓(ya),達到(dao)設定(ding)的電壓(ya)后,實時記(ji)錄當(dang)前的電壓(ya)值和電流值,并能夠實時記(ji)錄當(dang)前的擊穿點,試驗(yan)結束后自(zi)(zi)動歸零,自(zi)(zi)動統(tong)計電弱點數(shu)、電弱線數(shu),自(zi)(zi)動計算每平方(fang)米的電弱點數(shu)。

本儀器自動化程度高,操作簡單、安裝卷膜方(fang)便(bian)、落(luo)地式結構方(fang)便(bian)操作。

結構組成:

1、升壓(ya)(ya)(ya)部(bu)件:由調壓(ya)(ya)(ya)器和高(gao)壓(ya)(ya)(ya)變壓(ya)(ya)(ya)器組成0~10KV的(de)升壓(ya)(ya)(ya)部(bu)分。

2、動 部 件:通過調壓(ya)裝置(zhi)勻速升壓(ya)到設定的(de)電壓(ya)值。

3、檢(jian)測(ce)部件:由集成電(dian)路(lu)組成的測(ce)量電(dian)路(lu),實時檢(jian)測(ce)測(ce)量數據傳給計算(suan)機。

4、計算(suan)機軟件:通過智能電路把(ba)由檢測(ce)設(she)備采集的(de)測(ce)控(kong)信(xin)號傳(chuan)給(gei)計算(suan)機。計算(suan)機根(gen)據采集的(de)信(xin)息(xi)控(kong)制設(she)備運行并處理(li)試驗(yan)結果。

5、收卷放卷:固定(ding)卷膜并按照設定(ding)的速度(du)旋轉運動

設備工作原理:

 本(ben)測試(shi)儀(yi)試(shi)驗電壓(ya)是0-10KV直(zhi)流電壓(ya),其波動為(wei)±1%。測試(shi)儀(yi)在試(shi)樣弱點擊(ji)穿(chuan)(chuan)后約0.1s內(nei)使電壓(ya)回升到原(yuan)來設定(ding)的(de)電壓(ya)。銅輥為(wei)下電極,導電橡(xiang)膠為(wei)上電極。薄膜以2m-5m /min的(de)速(su)度移(yi)(yi)動,薄膜弱點時擊(ji)穿(chuan)(chuan),擊(ji)穿(chuan)(chuan)點自(zi)動累(lei)積計數。膜移(yi)(yi)動以平方數自(zi)動計數。

優勢特點:

1、操作簡單:放(fang)卷(juan)收卷(juan)固定(ding)后,點開始自(zi)動測試(shi)

2、動(dong)態顯示:在薄膜擊(ji)穿(chuan)后(hou),同步(bu)動(dong)態顯示曲線,直觀可視

3、安裝方便:把模卷放入氣漲軸,通氣自動(dong)固定

4、張(zhang)力可(ke)調:同(tong)能實(shi)時調節收卷、放(fang)卷的(de)張(zhang)力

5、多種模式(shi):測(ce)(ce)試面(mian)積/測(ce)(ce)試長度/測(ce)(ce)試時(shi)間(jian)

6、擊穿點(dian)判定(ding):實(shi)時記錄電弱點(dian)與測(ce)試(shi)長度(du)(du)的(de)數(shu)據(ju),可(ke)以統計(ji)查詢電弱點(dian)之間的(de)長度(du)(du)

7、自動存(cun)(cun)儲(chu):試驗介(jie)紹后(hou)自動彈窗(chuang)提示存(cun)(cun)儲(chu)數(shu)據

8、智能(neng)自動:本(ben)機智能(neng)化、自動化程(cheng)度高,無需專業培訓(xun),即可操(cao)作


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