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產品詳(xiang)細頁
粉體粉末介質損耗測試儀及工頻介電常數儀

粉體粉末介質損耗測試儀及工頻介電常數儀

  • 產(chan)品型號:GCSTD-CII
  • 更新時間:2023-11-17
  • 產品(pin)介紹:粉體粉末介質損耗測試儀及工頻介電常數儀是一種*的測量介質損耗(tgδ)和電容容量(Cx)的儀器,測量各種絕緣材料、絕緣套管、絕緣液體、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗(tgδ)和電容容量(Cx)。具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓,抗干擾能力強, 測試時間短等優點。
  • 在線留言 /57223838

產品介紹

GCSTD-CII粉體粉末介質損耗測試儀及工頻介電常數儀

滿足標準:

GB/T1409-2006 測量電(dian)氣絕緣(yuan)材(cai)料在(zai)工頻、音頻、高頻下(xia)電(dian)容(rong)率和(he)介質損耗因數的推薦(jian)方法

GB/T 5654-2007 液體絕緣材料 相對電容率(lv)(lv)、介質損耗因(yin)數(shu)和直(zhi)流(liu)電阻率(lv)(lv)的(de)測(ce)量(liang)

GB/T 21216-2007 絕緣液體 測(ce)量電(dian)(dian)導和(he)電(dian)(dian)容確(que)定介質損耗因(yin)數的(de)試(shi)驗方法

GB/T 1693-2007 硫化橡(xiang)膠 介電常數和(he)介質損(sun)耗角(jiao)正切(qie)值的測(ce)定方(fang)法

GB/T 5594.4-1985__電子(zi)元器件結構陶(tao)瓷(ci)材(cai)料(liao)性能測試(shi)方(fang)法__介質損耗角正(zheng)切值的測試(shi)方(fang)法

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一、產品概述

粉體粉末介質損耗測試儀及工頻介電常數儀,是一種*的測量介質損耗(tgδ)和電(dian)容容量(Cx)的儀器,測量各(ge)種絕(jue)緣(yuan)材料、絕(jue)緣(yuan)套管(guan)、絕(jue)緣(yuan)液(ye)體(ti)、電(dian)力電(dian)纜、電(dian)容器、互感器、變壓器等高壓設備(bei)的介質損耗(tgδ)和電(dian)容容量(Cx)。具有操作簡(jian)單、中(zhong)文(wen)顯示(shi)、打印、使用方便(bian)、無需換算、自帶高壓,抗干擾能力強(qiang), 測試(shi)時間短(duan)等優點。

本測(ce)試儀采用變(bian)頻(pin)電源(yuan)技術(shu),利用單(dan)片機和電子(zi)技術(shu)進(jin)行自(zi)動(dong)頻(pin)率變(bian)換、模/數(shu)轉換和數(shu)據運(yun)算,達(da)到抗(kang)干擾能力強、測(ce)試速度(du)快、精度(du)高、操作簡便的功(gong)能。

二、性能特點

1、儀器測(ce)量(liang)準確度高(gao),可(ke)滿足油介損測(ce)量(liang)要求,因(yin)此只需配(pei)備標(biao)準油杯,和專用測(ce)試線即可(ke)實(shi)現油介損測(ce)量(liang)。

2、采用變頻(pin)技術來消除(chu)現(xian)場50Hz工頻(pin)干(gan)擾(rao),即(ji)使(shi)在強電磁干(gan)擾(rao)的環境(jing)下也能測得可靠(kao)的數據。

3、過流保護功能,在試品短路或擊(ji)穿時儀器(qi)不受損(sun)壞。

4、內附標(biao)準(zhun)電容(rong)和高(gao)壓電源,便(bian)于現場(chang)測試,減少(shao)現場(chang)接線。

5、儀器采用大屏幕液(ye)晶(jing)顯(xian)示器,測試過(guo)程通過(guo)漢字菜單提示既直觀(guan)又便于操(cao)作(zuo)。

三、技術指標

技術指標

1、試驗環境(jing)溫度:10℃~30℃(LCD液晶屏應避免(mian)長時間日照)

2、相對濕(shi)度(du):20%~80%

3、供電電源:電壓:220V±10%

4、外形尺寸:長*寬*高=470mm*320mm*360mm

5、重量:16kg

6、輸出功率:1.5KVA

7、顯示分辨(bian)率:3位、4位(內(nei)部全(quan)是6位)

8、測試方(fang)法:正(zheng)接法、反接法、外接試驗電(dian)壓法

9、測量范圍:內接試驗電壓:

tgδ:99.9%

Cx :30 pF<Cx(10KV)<60000 pF

10KV  Cx<60000 pF

5KV   Cx<80000 pF

2.5KV  Cx<0.3uF

外接試驗電壓:

由外接試驗變(bian)壓器輸出(chu)功率而定

10、基本測量誤差(cha):介質損耗(tgδ):1%±0.09%

電容(rong)容(rong)量(Cx):1.5%±1pF

11、分辨率: tgδ:0.01%

Cx :0.1pF

12、儀器為(wei)升(sheng)壓(ya)與測量一體化結構,輸出電壓(ya)2.5KV~10KV五檔(dang)可調(diao)

13、試樣(yang)要求:直(zhi)徑(jing)為50MM、100MM、38MM



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