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電壓擊穿試驗儀,電阻率測試儀,介電常數測試儀,漏電起痕試驗儀,耐電弧試驗儀、介電溫譜測量系統、熱刺激電流測量系統
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產(chan)品詳細頁
新款工頻介電常數測定儀

新款工頻介電常數測定儀

  • 產品(pin)型號:GCSTD-CII
  • 更新時間:2023-11-17
  • 產(chan)品介(jie)紹(shao):新款工頻介電常數測定儀是一種*的測量介質損耗(tgδ)和電容容量(Cx)的儀器,測量各種絕緣材料、絕緣套管、絕緣液體、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗(tgδ)和電容容量(Cx)。具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓,抗干擾能力強, 測試時間短等優點。
  • 在線留言 /57223838

產品介紹

GCSTD-CII新款工頻介電常數測定儀

滿足標準:

GB/T1409-2006 測量電氣絕(jue)緣材料在工(gong)頻、音頻、高頻下(xia)電容率和介質(zhi)損耗因數的推薦方(fang)法

GB/T 5654-2007 液體(ti)絕緣材料 相對(dui)電容率、介質損耗因數和直流電阻(zu)率的測(ce)量

GB/T 21216-2007 絕緣液體 測量電(dian)導和電(dian)容確定介質損耗因數的試驗方法(fa)

GB/T 1693-2007 硫化橡(xiang)膠 介(jie)電常(chang)數和介(jie)質損耗角(jiao)正切(qie)值的測定方法

GB/T 5594.4-1985__電子元器(qi)件(jian)結構陶瓷材(cai)料(liao)性能測(ce)試方法__介質損耗角(jiao)正(zheng)切值(zhi)的測(ce)試方法

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一、產品概述

新款工頻介電常數測定儀,是一種*的測(ce)量(liang)介質損(sun)耗(hao)(tgδ)和電(dian)(dian)容容量(liang)(Cx)的儀器(qi)(qi),測(ce)量(liang)各種絕緣(yuan)材料、絕緣(yuan)套管、絕緣(yuan)液體、電(dian)(dian)力電(dian)(dian)纜、電(dian)(dian)容器(qi)(qi)、互(hu)感器(qi)(qi)、變壓器(qi)(qi)等(deng)高(gao)壓設備的介質損(sun)耗(hao)(tgδ)和電(dian)(dian)容容量(liang)(Cx)。具有(you)操(cao)作簡單、中文顯示、打(da)印、使用方便(bian)、無需換算(suan)、自帶高(gao)壓,抗干擾能力強, 測(ce)試時間短(duan)等(deng)優點。

本測試儀采用(yong)變頻電(dian)源技(ji)術,利用(yong)單片機和(he)電(dian)子技(ji)術進行自動(dong)頻率變換、模(mo)/數轉換和(he)數據運算(suan),達到抗(kang)干擾能力強(qiang)、測試速度快、精度高、操作簡便的功能。

二、性能特點

1、儀器測(ce)量準(zhun)確度高,可滿足油(you)介(jie)損測(ce)量要求,因此只需配備標準(zhun)油(you)杯(bei),和專用測(ce)試(shi)線即可實(shi)現油(you)介(jie)損測(ce)量。

2、采用(yong)變(bian)頻技術來消(xiao)除現(xian)場50Hz工頻干擾,即使在強(qiang)電磁干擾的(de)環境下也能測得可(ke)靠的(de)數據。

3、過流保護功能(neng),在試品(pin)短路(lu)或擊穿時(shi)儀器不受損壞。

4、內附標準(zhun)電容和高壓電源,便于現場測試,減(jian)少現場接(jie)線。

5、儀器采用大屏幕液晶顯示器,測(ce)試(shi)過程通過漢字菜(cai)單提示既直觀又便于(yu)操作(zuo)。

三、技術指標

技術指標

1、試(shi)驗環境溫度(du):10℃~30℃(LCD液晶屏應(ying)避免長時間日照)

2、相對濕(shi)度:20%~80%

3、供電(dian)電(dian)源(yuan):電(dian)壓(ya):220V±10%

4、外形尺(chi)寸(cun):長*寬*高=470mm*320mm*360mm

5、重量:16kg

6、輸出(chu)功率:1.5KVA

7、顯示(shi)分辨率:3位、4位(內部全是6位)

8、測試(shi)(shi)方法(fa):正接(jie)法(fa)、反接(jie)法(fa)、外接(jie)試(shi)(shi)驗電(dian)壓法(fa)

9、測量(liang)范圍:內接試驗(yan)電壓(ya):

tgδ:99.9%

Cx :30 pF<Cx(10KV)<60000 pF

10KV  Cx<60000 pF

5KV   Cx<80000 pF

2.5KV  Cx<0.3uF

外接試驗電壓:

由外接試驗變(bian)壓器輸(shu)出功率(lv)而定

10、基本測(ce)量誤差(cha):介質損耗(tgδ):1%±0.09%

電容容量(liang)(Cx):1.5%±1pF

11、分辨率: tgδ:0.01%

Cx :0.1pF

12、儀器為(wei)升壓(ya)與測量一(yi)體(ti)化結構,輸(shu)出電(dian)壓(ya)2.5KV~10KV五檔可調

13、試樣要(yao)求:直徑為50MM、100MM、38MM



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