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產品詳細頁產品介紹
新款DRD系列薄膜電弱點實驗裝置
DRD-10KV
新款DRD系列薄膜電弱點實驗裝置
•產品型號:DRD-10KV
•執行標準(zhun):GB_T 13542.2-2009 IEC 60674-2:1988-電氣絕緣用薄膜 第2部分試驗方法
產品用途:
該儀器主要(yao)用(yong)于電(dian)氣用(yong)聚氨脂薄(bo)膜(mo)、塑料薄(bo)膜(mo)、聚丙稀薄(bo)膜(mo)等絕(jue)緣材料在給定直流電(dian)壓下自動升壓測定每平方(fang)米的(de)擊穿點(dian)數。
本儀器方(fang)式(shi)為微(wei)機(ji)控制,卷(juan)膜(mo)移(yi)動速度(du)可設(she)定(ding),按(an)照設(she)定(ding)的(de)升壓速率升壓,達到設(she)定(ding)的(de)電(dian)壓后(hou),實時(shi)記錄當前的(de)電(dian)壓值(zhi)和(he)電(dian)流(liu)值(zhi),并能夠實時(shi)記錄當前的(de)擊穿(chuan)點,試驗結束后(hou)自(zi)動歸零,自(zi)動統計電(dian)弱點數、電(dian)弱線(xian)數,自(zi)動計算每平方(fang)米的(de)電(dian)弱點數。
本儀器自動化程度(du)高,操作(zuo)簡單、安裝卷(juan)膜方(fang)(fang)便、落地(di)式結構方(fang)(fang)便操作(zuo)。
結構組成:
1、升壓部(bu)件:由(you)調壓器和高壓變壓器組(zu)成0~10KV的升壓部(bu)分(fen)。
2、動 部 件:通過(guo)調(diao)壓(ya)裝置勻速升(sheng)壓(ya)到設定的(de)電壓(ya)值。
3、檢(jian)測(ce)部件(jian):由(you)集成(cheng)電路組(zu)成(cheng)的(de)測(ce)量電路,實時(shi)檢(jian)測(ce)測(ce)量數據傳給(gei)計(ji)算機。
4、計算機軟件:通過智能(neng)電路把(ba)由(you)檢測設備(bei)采集的(de)測控(kong)信(xin)號傳給計算機。計算機根據采集的(de)信(xin)息控(kong)制設備(bei)運(yun)行并處理試驗結(jie)果。
5、收(shou)卷放(fang)卷:固定卷膜(mo)并(bing)按照設定的(de)速度旋轉運動
設備工作原理:
本測試儀試驗電(dian)壓(ya)是0-10KV直流電(dian)壓(ya),其(qi)波動為±1%。測試儀在試樣弱(ruo)點擊穿(chuan)后約0.1s內(nei)使電(dian)壓(ya)回升到原來設定的(de)電(dian)壓(ya)。銅輥為下電(dian)極,導(dao)電(dian)橡膠為上(shang)電(dian)極。薄(bo)膜(mo)以(yi)2m-5m /min的(de)速度移動,薄(bo)膜(mo)弱(ruo)點時(shi)擊穿(chuan),擊穿(chuan)點自動累積計(ji)數。膜(mo)移動以(yi)平方數自動計(ji)數。
優勢特點:
1、操作簡(jian)單:放卷收卷固定后,點開始自(zi)動測試(shi)
2、動(dong)態顯示:在薄膜擊穿(chuan)后,同步(bu)動(dong)態顯示曲線,直觀可視
3、安(an)裝方便:把模卷放入氣漲軸(zhou),通氣自(zi)動固定(ding)
4、張(zhang)力可調(diao):同能實(shi)時調(diao)節收卷、放卷的張(zhang)力
5、多種模式:測試面積/測試長度/測試時間
6、擊穿點(dian)判定:實時記(ji)錄電弱(ruo)點(dian)與測試長度(du)的數據,可以統計查詢電弱(ruo)點(dian)之間的長度(du)
7、自(zi)動存儲:試(shi)驗介紹后自(zi)動彈窗提示存儲數據(ju)
8、智能(neng)自動:本機智能(neng)化、自動化程(cheng)度(du)高(gao),無需(xu)專業培訓,即可操作(zuo)
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