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產品詳細頁
新款DRD系列電弱點測定儀

新款DRD系列電弱點測定儀

  • 產品型號:DRD10KV
  • 更新時間:2023-11-17
  • 產品介(jie)紹(shao):新款DRD系列電弱點測定儀是根據GB/T 13542-92、IEC 60674-2:1988 電氣用塑料薄膜標準要求設計的高壓試驗裝置。主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下每平方米的擊穿點數。本機采用計算機控制,可對試驗過程中的各種數據進行快速、準確的采集、處理,并可存取、顯示、打印.
  • 在線留言 /57223838

產品介紹

新款DRD系列電弱點測定儀

DRD-10KV

新款DRD系列電弱點測定儀

•產品型號:DRD-10KV

•執行標準:GB_T 13542.2-2009 IEC 60674-2:1988-電氣絕緣用(yong)薄膜(mo) 第2部分試驗方(fang)法

產品用途:

該儀器(qi)主要用于(yu)電氣用聚(ju)氨脂薄(bo)膜(mo)、塑料薄(bo)膜(mo)、聚(ju)丙(bing)稀(xi)薄(bo)膜(mo)等絕緣材料在給定直流電壓下自動升(sheng)壓測定每(mei)平方(fang)米(mi)的擊穿點數。

本儀器方(fang)式為微(wei)機控制,卷膜移動(dong)(dong)速(su)度可設定(ding),按照設定(ding)的升壓(ya)速(su)率升壓(ya),達到(dao)設定(ding)的電(dian)(dian)壓(ya)后,實(shi)時記錄(lu)當前(qian)的電(dian)(dian)壓(ya)值和電(dian)(dian)流(liu)值,并能夠實(shi)時記錄(lu)當前(qian)的擊穿點(dian),試驗結(jie)束后自(zi)(zi)動(dong)(dong)歸零(ling),自(zi)(zi)動(dong)(dong)統計電(dian)(dian)弱點(dian)數(shu)(shu)、電(dian)(dian)弱線數(shu)(shu),自(zi)(zi)動(dong)(dong)計算每平方(fang)米的電(dian)(dian)弱點(dian)數(shu)(shu)。

本儀(yi)器自動化(hua)程度高,操作簡單(dan)、安裝(zhuang)卷膜方便(bian)、落地式結構方便(bian)操作。

結構組成:

1、升(sheng)壓部件:由調(diao)壓器(qi)和高壓變壓器(qi)組成0~10KV的升(sheng)壓部分(fen)。

2、動 部 件(jian):通過調壓裝置勻速升(sheng)壓到(dao)設定的電壓值。

3、檢測(ce)部件:由集成(cheng)電路(lu)組成(cheng)的測(ce)量(liang)(liang)電路(lu),實時檢測(ce)測(ce)量(liang)(liang)數據傳給計算機(ji)。

4、計(ji)算(suan)機(ji)軟件:通過智能電路把(ba)由(you)檢測設備(bei)(bei)采集(ji)的測控信(xin)號傳(chuan)給計(ji)算(suan)機(ji)。計(ji)算(suan)機(ji)根據采集(ji)的信(xin)息控制設備(bei)(bei)運行并處理試驗結(jie)果。

5、收(shou)卷(juan)(juan)放卷(juan)(juan):固定卷(juan)(juan)膜(mo)并按照設(she)定的速度旋(xuan)轉運動

設備工作原理:

 本測(ce)試(shi)儀(yi)試(shi)驗電(dian)壓(ya)是0-10KV直(zhi)流電(dian)壓(ya),其波動為(wei)±1%。測(ce)試(shi)儀(yi)在試(shi)樣弱點(dian)擊(ji)穿(chuan)后約0.1s內使電(dian)壓(ya)回升到原來設定的(de)電(dian)壓(ya)。銅輥為(wei)下電(dian)極,導(dao)電(dian)橡膠為(wei)上電(dian)極。薄膜以2m-5m /min的(de)速度移動,薄膜弱點(dian)時擊(ji)穿(chuan),擊(ji)穿(chuan)點(dian)自動累積計(ji)數(shu)(shu)。膜移動以平方(fang)數(shu)(shu)自動計(ji)數(shu)(shu)。

優勢特點:

1、操作簡單:放卷收卷固定(ding)后(hou),點開始自動測(ce)試

2、動態顯示:在薄膜(mo)擊穿后,同(tong)步(bu)動態顯示曲線,直觀可視(shi)

3、安裝方便(bian):把模(mo)卷放入氣漲軸,通(tong)氣自動固(gu)定

4、張力可調(diao):同能實時調(diao)節收卷、放卷的張力

5、多種模式:測試(shi)面積/測試(shi)長度/測試(shi)時(shi)間

6、擊穿點(dian)判定:實時記(ji)錄電(dian)弱點(dian)與測試長度的數據,可以統(tong)計(ji)查詢電(dian)弱點(dian)之間的長度

7、自動存(cun)儲:試驗(yan)介紹(shao)后自動彈窗提(ti)示存(cun)儲數據

8、智(zhi)(zhi)能自動:本(ben)機(ji)智(zhi)(zhi)能化(hua)、自動化(hua)程(cheng)度高,無需專業培訓,即可操作


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