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電壓擊穿試驗儀,電阻率測試儀,介電常數測試儀,漏電起痕試驗儀,耐電弧試驗儀、介電溫譜測量系統、熱刺激電流測量系統
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產品詳細頁(ye)
工頻介質損耗測量儀

工頻介質損耗測量儀

  • 產品型號:GCSTD-CII
  • 更(geng)新時間:2023-11-18
  • 產品介紹:工頻介質損耗測量儀是一種*的測量介質損耗和電容容量的儀器,測量各種絕緣材料、絕緣套管、絕緣液體、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗。具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓,抗擾能力強, 測試時間短等優點。
  • 在線留言 /57223838

產品介紹


產品概述


本儀器(qi)(qi)(qi)是一種*的(de)測(ce)量(liang)介質(zhi)損耗(hao)的(de)儀器(qi)(qi)(qi),測(ce)量(liang)各(ge)種絕緣(yuan)材料、絕緣(yuan)套管、絕緣(yuan)液體(ti)、電力電纜(lan)、電容器(qi)(qi)(qi)、互感(gan)器(qi)(qi)(qi)、變壓器(qi)(qi)(qi)等高(gao)壓設(she)備的(de)介質(zhi)損耗(hao)。具有操作簡單、中(zhong)文顯示、打印、使用(yong)方便、無需換算、自帶高(gao)壓,抗擾(rao)能力強, 測(ce)試時間短等優點。

本測(ce)試儀采用變(bian)頻(pin)電源技(ji)術(shu),利用單片機和電子(zi)技(ji)術(shu)進行自動頻(pin)率變(bian)換(huan)、模/數轉換(huan)和數據運(yun)算,達到抗擾能力強、測(ce)試速度快、精度高、操作簡(jian)便的(de)功能。


技術指標

1、試(shi)驗環境(jing)溫度:10℃~30℃(LCD液(ye)晶屏應避免長時間日照)

2、相(xiang)對濕(shi)度:20%~80%

3、供電(dian)電(dian)源:電(dian)壓(ya):220V±10%

4、外形尺寸:長(chang)*寬*高=470mm*320mm*360mm

5、重量:16kg

6、輸出功率:工頻介質損耗測量儀1.5KVA

7、顯示分辨率:3位、4位(內部全是6位)

8、測試方法:正接(jie)(jie)法、反接(jie)(jie)法、外接(jie)(jie)試驗電(dian)壓法

9、測量范圍:內接(jie)試驗電(dian)壓:

tgδ:99.9%

Cx :50 pF<Cx(2.5KV)<0.3UF

2.5KV  Cx<0.3uF

0.5KV Cx<1.5uF

外接試驗電壓:

由外接試驗變壓(ya)器輸出(chu)功率而定

10、基(ji)本(ben)測(ce)量誤差:介質損耗(tgδ):1%±0.09%

電容(rong)容(rong)量(Cx):1.5%±1pF

11、分辨率: tgδ:0.01%

Cx :0.1pF

12、試樣(yang)要求:直徑為50MM、100MM、38MM



以(yi)便觀察(cha)試樣暴露在高溫下是(shi)否產生(sheng)*性變(bian)化。取測得的電(dian)阻(zu)(zu)R值作為絕(jue)緣電(dian)阻(zu)(zu),Rv——體積電(dian)阻(zu)(zu),單(dan)位(wei)為歐(ou)姆(Q);A——測量電(dian)極(ji)(ji)的有效面積,h—試樣在面積A以(yi)內(nei)的平均厚(hou)度,c)電(dian)極(ji)(ji)型式、材料、尺寸;

d)電(dian)(dian)阻(zu)的(de)測(ce)(ce)量(liang)方法;e)試(shi)驗電(dian)(dian)壓和電(dian)(dian)化時間(jian);g)測(ce)(ce)量(liang)時的(de)溫(wen)(wen)度;h)每一溫(wen)(wen)度下的(de)個別值;i)體積電(dian)(dian)阻(zu)率(lv)。1—溫(wen)(wen)度指示儀(yi);2-熱(re)電(dian)(dian)偶;4—電(dian)(dian)極(ji)板;5--金屬屏蔽罩;6—電(dian)(dian)源;8烘箱臂。試(shi)驗儀(yi)器(qi)的(de)額定直流(liu)開(kai)路電(dian)(dian)壓為500V,好采用絕緣(yuan)測(ce)(ce)試(shi)儀(yi)(歐姆(mu)表)或(huo)用任何一種可給岀可比結果的(de)合適儀(yi)器(qi)進行測(ce)(ce)試(shi)。試(shi)驗儀(yi)器(qi)的(de)測(ce)(ce)定電(dian)(dian)阻(zu)誤差(cha)應小于10%


工頻介質損耗測量儀


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