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電壓擊穿試驗儀,電阻率測試儀,介電常數測試儀,漏電起痕試驗儀,耐電弧試驗儀、介電溫譜測量系統、熱刺激電流測量系統
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產品詳(xiang)細頁
工頻介質介電常數損耗測試儀

工頻介質介電常數損耗測試儀

  • 產品型(xing)號:GCSTD-CII
  • 更新時間(jian):2024-02-04
  • 產品介紹:工頻介質介電常數損耗測試儀是一種*的測量介質損耗(tgδ)和電容容量(Cx)的儀器,測量各種絕緣材料、絕緣套管、絕緣液體、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗(tgδ)和電容容量(Cx)。具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓, 測試時間短等優點。
  • 在線留言 /57223838

產品介紹

GCSTD-CII工頻介質介電常數損耗測試儀

滿足標準:

GB/T1409-2006 測量電氣(qi)絕緣材料在工頻、音頻、高頻下(xia)電容率和(he)介質損(sun)耗因數(shu)的推薦(jian)方法

GB/T 5654-2007 液體絕(jue)緣材(cai)料 相對電容率、介(jie)質(zhi)損耗因(yin)數和(he)直流電阻率的測量

GB/T 21216-2007 絕緣液體 測量電(dian)導和電(dian)容確定介質損耗(hao)因數的試驗方(fang)法

GB/T 1693-2007 硫(liu)化(hua)橡膠(jiao) 介電常數和介質損(sun)耗角正切(qie)值的測定方(fang)法

GB/T 5594.4-1985__電子元器(qi)件結構陶(tao)瓷材料性能測試(shi)(shi)方法(fa)__介(jie)質損耗(hao)角正(zheng)切值的測試(shi)(shi)方法(fa)

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一、產品概述

工頻介質介電常數損耗測試儀,是一種*的(de)(de)測量介質(zhi)損耗(hao)(tgδ)和電容(rong)容(rong)量(Cx)的(de)(de)儀器(qi),測量各種絕緣材料、絕緣套管、絕緣液體、電力(li)(li)電纜(lan)、電容(rong)器(qi)、互感(gan)器(qi)、變壓器(qi)等(deng)(deng)高壓設備(bei)的(de)(de)介質(zhi)損耗(hao)(tgδ)和電容(rong)容(rong)量(Cx)。具有(you)操作(zuo)簡單、中文顯示、打印(yin)、使用方便、無需換(huan)算、自帶高壓,抗(kang)干(gan)擾能力(li)(li)強, 測試時間短(duan)等(deng)(deng)優點。

本測(ce)試(shi)儀采用變頻(pin)電源技術,利(li)用單片(pian)機(ji)和(he)電子技術進行(xing)自動(dong)頻(pin)率變換、模/數轉(zhuan)換和(he)數據(ju)運算,達到(dao)抗(kang)干擾能力(li)強、測(ce)試(shi)速(su)度快、精(jing)度高、操(cao)作(zuo)簡便(bian)的功能。

二、性能特點

1、儀器測(ce)(ce)量準(zhun)確度高,可滿足(zu)油(you)介損測(ce)(ce)量要求,因此(ci)只需配備標準(zhun)油(you)杯,和專用測(ce)(ce)試線即可實現油(you)介損測(ce)(ce)量。

2、采用變頻技(ji)術來消(xiao)除現場50Hz工頻干擾,即使在強電磁干擾的環境下也能測得(de)可靠的數(shu)據。

3、過流保護(hu)功(gong)能(neng),在試品(pin)短(duan)路或(huo)擊穿時儀器不受(shou)損壞。

4、內(nei)附標準電(dian)容和(he)高壓(ya)電(dian)源,便于現場(chang)測試,減少現場(chang)接線(xian)。

5、儀器采用大屏幕液(ye)晶顯示(shi)器,測試過(guo)程通(tong)過(guo)漢(han)字菜單提示(shi)既直觀又便于(yu)操作。

三、技術指標

技術指標

1、試驗環境溫(wen)度:10℃~30℃(LCD液晶屏應避免長時間日照)

2、相對(dui)濕度:20%~80%

3、供電(dian)電(dian)源:電(dian)壓:220V±10%

4、外形尺寸:長(chang)*寬(kuan)*高=470mm*320mm*360mm

5、重量:16kg

6、輸出功率:1.5KVA

7、顯(xian)示分辨率:3位(wei)、4位(wei)(內部全是(shi)6位(wei))

8、測(ce)試方法(fa):正接(jie)法(fa)、反接(jie)法(fa)、外接(jie)試驗電壓法(fa)

9、測量范圍:內接試驗電壓:

tgδ:99.9%

Cx :30 pF<Cx(10KV)<60000 pF

10KV  Cx<60000 pF

5KV   Cx<80000 pF

2.5KV  Cx<0.3uF

外接試驗電壓:

由外(wai)接試驗變(bian)壓器輸(shu)出功(gong)率(lv)而定

10、基(ji)本測量誤(wu)差:介質損(sun)耗(tgδ):1%±0.09%

電容容量(Cx):1.5%±1pF

11、分辨率: tgδ:0.01%

Cx :0.1pF

12、儀器為(wei)升壓與測量一體(ti)化結構,輸出電壓2.5KV~10KV五檔可調(diao)

13、試樣要求(qiu):直徑為50MM、100MM、38MM





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