產品介紹

全自動高低頻介電常數實驗儀GCSTD

滿足標準：

GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料(liao)在工頻、音(yin)頻、高(gao)頻（包括米波(bo)波(bo)長在內）下電容

率和介質損耗因數的(de)推薦方法(fa)

GB／T1693-2007硫化橡(xiang)膠介(jie)電常(chang)數和介(jie)質損耗角正切值的(de)測(ce)定方法

ASTM D150／IEC 60250固體電絕(jue)緣(yuan)材料的（恒(heng)久電介質）的交流損耗特性和(he)介電常(chang)數

的測試方法

全自動高低頻介電常數實驗儀GCSTD試驗方法：

接觸法：適用于厚(hou)度(du)均勻、上(shang)下表(biao)面(mian)平整、光滑材料

非接觸法：適用于上下表面不平整、不光滑材料

電(dian)極(ji)類型：固(gu)定電(dian)極(ji)-測量電(dian)極(ji)φ38mm／φ50mm（標配(pei)電(dian)極(ji)1套，標配(pei)為38mm）

液體電極-液體容量(liang)15ml

粉體電極-根(gen)據(ju)樣品(pin)量可(ke)配專用(yong)電極

試樣類型：固體、液體、粉(fen)體、膏體／規(gui)則(ze)物或者不規(gui)則(ze)物

性能特點：

測(ce)試頻率20H2～2MHz，10mHz步進

測試電平10mV～5V，1mV步進

基本準確度0.1％

最(zui)高達200次(ci)／s的測量速度

320x240點(dian)陣大型圖形LCD顯示

五位讀數分辨率

可測量22種阻抗參數(shu)組合(he)

四種信號源輸出阻抗

10點列表掃描測試功能

內部自帶直流偏置源

外(wai)置偏流源(yuan)至40A（配置兩臺TH1776）（選件）

電(dian)壓或電(dian)流的自動電(dian)平調整（ALC）功(gong)能

V、1測試信號電平監(jian)視功(gong)能

圖形掃描分析功能

20組內(nei)部儀器設定可(ke)供儲存／讀取

內建比較器，10檔分選及計數功能

多種(zhong)通訊接(jie)口方便用戶聯機使用

2m／4m測(ce)試電(dian)纜擴展(zhan)（選(xuan)件）

中英文可選操作界面

可通過(guo)USB HOST 自動升級(ji)儀器工作程序

測試材料：

無源元件：電(dian)容器、電(dian)感(gan)器、磁(ci)芯、電(dian)阻器、壓電(dian)器件、變壓器、芯片組件和(he)網(wang)絡元件

等的(de)陽抗參數評估和(he)性(xing)能分析。

半導體元件：變容(rong)二極(ji)管(guan)的C-VDC特(te)性(xing)；晶(jing)體管(guan)或集成電路的寄(ji)生參(can)數分(fen)析

其它元件：印制(zhi)電(dian)路(lu)板、繼電(dian)器、開關、電(dian)纜、電(dian)池(chi)等的阻(zu)抗評估(gu)

介質材料：塑料、陶瓷和其(qi)它材料的介電常(chang)數(shu)和損耗角評估(gu)

磁(ci)性材(cai)料：鐵氧體、非晶體和其它(ta)磁(ci)性材(cai)料的導磁(ci)率和損耗角(jiao)評估

半導體材(cai)(cai)料：半導體材(cai)(cai)料的(de)介電常(chang)數(shu)、導電率和C-V特性

液(ye)晶材(cai)料：液(ye)晶單元的(de)介電常數、彈性(xing)(xing)常數等C-V特(te)性(xing)(xing)