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產品詳細頁
全自動Langmuir比表面積分析儀

全自動Langmuir比表面積分析儀

  • 產品型(xing)號(hao):BETA202A
  • 更新時間:2023-11-19
  • 產品介(jie)紹:全自動Langmuir比表面積分析儀適用產品多:包括測量建材、石墨、電池材料、沸石、碳材料、分子篩、二氧化鋁、土壤、有機化合物等粉體以及各種塊材、片材、高分子纖維等。
    功能強大,包含目前所有的數據處理方法:單點和多點BET比表面積。Langmuir比表面積。粒度估算和真密度測試、孔隙率及孔隙度分析。
  • 在線留言 /57223838

產品介紹




全自動Langmuir比表面積分析儀

BETA202A


一、適用范圍及功能

1)全自動Langmuir比表面積分析儀,適用產品(pin)多:包括測量(liang)建材(cai)、石(shi)墨(mo)、電(dian)池材(cai)料、沸石(shi)、碳材(cai)料、分子(zi)篩、二氧化(hua)鋁(lv)、土(tu)壤、有機化(hua)合物等粉體以及各種塊材(cai)、片材(cai)、高分子(zi)纖(xian)維等。

2)功(gong)能強大(da),包含目前所有的(de)(de)數據處理(li)方法:單(dan)點(dian)和多(duo)點(dian)BET比表面積(ji)。Langmuir比表面積(ji)。粒度估算和真密度測(ce)試、孔(kong)(kong)隙率及孔(kong)(kong)隙度分(fen)(fen)析(xi)(xi)。吸、脫附等(deng)溫線分(fen)(fen)析(xi)(xi)。BJH中孔(kong)(kong)和大(da)孔(kong)(kong)的(de)(de)孔(kong)(kong)體積(ji),孔(kong)(kong)面積(ji)對孔(kong)(kong)徑的(de)(de)分(fen)(fen)布,總孔(kong)(kong)體積(ji)等(deng)。可以(yi)(yi)加t-plots微(wei)(wei)孔(kong)(kong)分(fen)(fen)析(xi)(xi),as-plots微(wei)(wei)孔(kong)(kong)分(fen)(fen)析(xi)(xi),MP微(wei)(wei)孔(kong)(kong)分(fen)(fen)析(xi)(xi)等(deng)。可以(yi)(yi)進行微(wei)(wei)孔(kong)(kong)DR理(li)論、HK狹縫孔(kong)(kong)理(li)論、SF圓柱形孔(kong)(kong)理(li)論分(fen)(fen)析(xi)(xi),可加DFT密度函數理(li)論,包括(kuo)NLDFT等(deng)。

二、軟件功能:

1)可(ke)以(yi)選擇USB連接或網口連接方式,網口連接可(ke)以(yi)實現遠程(cheng)控(kong)制儀器、遠程(cheng)診(zhen)斷故(gu)障,可(ke)以(yi)通過路由器實現一臺電腦(nao)多臺設備操(cao)控(kong),為客戶(hu)節省資源。

2)優化的真空泵啟停管理系(xi)統,在測試過程中真空泵無(wu)需一(yi)直處于運行狀態,減小(xiao)噪(zao)音(yin),延長,真空泵壽命。

3)自(zi)動(dong)恢復大氣壓功(gong)能,方(fang)便樣品拆(chai)卸,并(bing)保證不會出現樣品飛濺。

4)自動高(gao)(gao)真空檢測(ce)系統,確保測(ce)試均在高(gao)(gao)真空環境下進行,確保測(ce)試結果的準確性。

5)自動應急處理系統,能夠保(bao)證突然停(ting)電(dian)、石英管破碎等(deng)突發偶然情況下(xia)儀器自動恢復正(zheng)常。

6)強大的(de)(de)數據(ju)庫,存儲有多達幾十(shi)種(zhong)測試(shi)模式,客戶也(ye)可(ke)以根據(ju)自身需要(yao)建立更符合自身產(chan)(chan)品(pin)(pin)的(de)(de)測試(shi)模式,對產(chan)(chan)品(pin)(pin)進行更精確的(de)(de)測試(shi)。

7)斷(duan)(duan)電后,測試系統恢復功能。比表面(mian)積及孔徑分析時,真空脫氣過程相當(dang)漫長,在(zai)進行測試時,突然停電,中斷(duan)(duan)測試是(shi)一件非常痛苦而無奈(nai)的事情。不(bu)僅損失掉(diao)數據(ju)、還會耽誤科(ke)研進程,這項(xiang)功能在(zai)此(ci)時顯得特別重要(yao)。

8)可(ke)(ke)以(yi)進行PDF電子版打(da)印(yin)及(ji)Excel數(shu)(shu)據(ju)(ju)導出,以(yi)及(ji)各種理論數(shu)(shu)據(ju)(ju)選擇打(da)印(yin)。還可(ke)(ke)以(yi)進行不同時(shi)間、相同樣品(pin)、相同測試模(mo)式數(shu)(shu)據(ju)(ju)和分布曲線對照(zhao)查看和打(da)印(yin)功(gong)能(neng)。

9)可以進行(xing)中英界(jie)(jie)面(mian)操作測(ce)試和中英文界(jie)(jie)面(mian)打印測(ce)試報(bao)告。





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