產品介紹

DRD薄膜電弱點測定儀

DRD-10KV

DRD薄膜電弱點測定儀

•產品型號：DRD-10KV

•執行標準：GB_T 13542.2-2009 IEC 60674-2:1988-電(dian)氣絕(jue)緣用薄膜(mo) 第(di)2部分試驗方法

產品用途：

該(gai)儀器主要用于電氣(qi)用聚氨脂薄(bo)膜(mo)、塑(su)料薄(bo)膜(mo)、聚丙稀薄(bo)膜(mo)等絕緣材料在給定(ding)(ding)直(zhi)流(liu)電壓(ya)下自動升壓(ya)測定(ding)(ding)每平方米的擊穿點數。

本儀器方(fang)式為(wei)微機控制(zhi)，卷膜移動(dong)(dong)速度可(ke)設定，按照設定的(de)(de)升(sheng)壓(ya)(ya)速率升(sheng)壓(ya)(ya)，達到設定的(de)(de)電(dian)壓(ya)(ya)后(hou)，實(shi)時(shi)(shi)記錄(lu)當前的(de)(de)電(dian)壓(ya)(ya)值和(he)電(dian)流(liu)值，并能(neng)夠實(shi)時(shi)(shi)記錄(lu)當前的(de)(de)擊(ji)穿點(dian)(dian)，試(shi)驗結束后(hou)自動(dong)(dong)歸零(ling)，自動(dong)(dong)統計電(dian)弱(ruo)(ruo)點(dian)(dian)數、電(dian)弱(ruo)(ruo)線數，自動(dong)(dong)計算每平方(fang)米的(de)(de)電(dian)弱(ruo)(ruo)點(dian)(dian)數。

本儀器(qi)自動化程度高，操(cao)作簡單、安裝卷(juan)膜方便(bian)、落地式(shi)結構方便(bian)操(cao)作。

結構組成：

1、升(sheng)壓(ya)部件(jian)：由調壓(ya)器和高(gao)壓(ya)變壓(ya)器組成0～10KV的(de)升(sheng)壓(ya)部分。

2、動 部(bu) 件：通過調壓裝置勻速升壓到設定的電壓值。

3、檢測(ce)部件(jian)：由集成(cheng)電(dian)路組(zu)成(cheng)的測(ce)量電(dian)路，實時(shi)檢測(ce)測(ce)量數據(ju)傳給(gei)計算機。

4、計(ji)算機(ji)軟件：通(tong)過智能電路把由(you)檢測(ce)(ce)設備采集的測(ce)(ce)控信(xin)號傳給計(ji)算機(ji)。計(ji)算機(ji)根據采集的信(xin)息控制設備運(yun)行(xing)并處(chu)理(li)試驗(yan)結果(guo)。

5、收(shou)卷(juan)放(fang)卷(juan)：固定卷(juan)膜并(bing)按照設定的速度旋轉運動(dong)

設備工作原理:

本(ben)測試(shi)儀試(shi)驗電(dian)(dian)壓(ya)是0－10KV直流電(dian)(dian)壓(ya)，其波動(dong)(dong)(dong)為(wei)±1%。測試(shi)儀在試(shi)樣(yang)弱點擊穿后約0.1s內使電(dian)(dian)壓(ya)回(hui)升到原來設定的電(dian)(dian)壓(ya)。銅(tong)輥為(wei)下電(dian)(dian)極(ji)，導電(dian)(dian)橡(xiang)膠為(wei)上電(dian)(dian)極(ji)。薄膜(mo)(mo)以2m-5m /min的速度移(yi)動(dong)(dong)(dong),薄膜(mo)(mo)弱點時擊穿，擊穿點自動(dong)(dong)(dong)累積計數(shu)。膜(mo)(mo)移(yi)動(dong)(dong)(dong)以平(ping)方數(shu)自動(dong)(dong)(dong)計數(shu)。

優勢特點：

1、操作(zuo)簡單(dan):放卷(juan)(juan)收卷(juan)(juan)固(gu)定后，點(dian)開(kai)始(shi)自(zi)動(dong)測試

2、動態(tai)顯示(shi)：在薄膜擊穿后(hou)，同(tong)步動態(tai)顯示(shi)曲線，直(zhi)觀可(ke)視

3、安裝方便：把模卷放入氣漲軸(zhou)，通氣自動固定

4、張力可調(diao)：同能實(shi)時(shi)調(diao)節(jie)收卷、放(fang)卷的張力

5、多種模式(shi)：測(ce)(ce)試(shi)(shi)面積(ji)/測(ce)(ce)試(shi)(shi)長度/測(ce)(ce)試(shi)(shi)時間

6、擊穿點判(pan)定：實時記錄電(dian)弱點與測(ce)試長度(du)的(de)數據，可以統計查詢電(dian)弱點之間的(de)長度(du)

7、自動存(cun)儲(chu)：試驗介紹后自動彈窗提示存(cun)儲(chu)數(shu)據

8、智能自動(dong)：本機智能化(hua)、自動(dong)化(hua)程度高(gao)，無(wu)需專業培訓，即(ji)可操作