產品介紹

粉體高低頻介電常數測量儀

GCSTD-DII

一、滿足標準：

GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料(liao)在工頻、音頻、高頻（包(bao)括米(mi)波波長在內）下電容率和介質損耗(hao)因數的(de)推薦方法(fa)

GB/T1693-2007 硫化橡膠 介(jie)(jie)電常數和介(jie)(jie)質損耗角正切(qie)值的測定方法

ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(de)(恒久電介質)的(de)交流(liu)損耗特性和(he)介電常數的(de)測試方法

二、粉體高低頻介電常數測量儀技術要求：

接觸(chu)法：適(shi)用(yong)于厚(hou)度均(jun)勻、上下表面平整、光滑材料(liao)

電極類型：固(gu)定電極-測(ce)量(liang)電極φ38mm

測(ce)試頻率：20HZ-5MHZ

測試電極：黃銅電極

測試環境：室溫

三、軟件功能：

* 1、測試頻(pin)率可以掃描(miao)進(jin)行測試

*2、測(ce)試(shi)頻率可以(yi)單點(dian)測(ce)試(shi)

*3、測(ce)試頻率(lv)可以(yi)多頻設置測(ce)試

4、測(ce)試速(su)度模式：快速(su)、中速(su)、慢速(su)

5、測試(shi)數(shu)據與(yu)曲(qu)線(xian)顯示：

*6、電阻率(lv)—測試頻(pin)率(lv)

*7、絕(jue)對介電常數(shu)--測試頻(pin)率

*8、相對(dui)介電常(chang)數--測試頻(pin)率

*9、相對介電常數虛部--測試頻率

*10、相(xiang)對介電常數實部--測(ce)試頻率(lv)

*11、介質損耗(hao)--測試頻率

*12、電容(rong)值--測(ce)試頻率

四 、測試電橋參數

測試參數 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

測試頻率 20 Hz～5MHz,10mHz步進(jin)

測試信號電 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）

平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本準確度 0.1%

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C 0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

顯示范圍 Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D 0.0001 ～ 9.9999

Q 0.0001 ～ 99999

θ -179.99°～ 179.99°

測量速度 快(kuai)速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）

中速: 25次/s, 慢(man)速: 5次/s

校準功能 開路 / 短(duan)路點頻、掃頻清零，負(fu)載校(xiao)準

等效方式 串(chuan)聯(lian)方式(shi), 并(bing)聯(lian)方式(shi)

量程方式 自動, 保持

顯示方式 直讀, Δ, Δ%

觸發方式 內(nei)部(bu), 手動, 外部(bu), 總線

內部直流偏 電壓模式 -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進

置源 電流模式（內阻為50Ω） -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進

比較器功能 10檔分(fen)選(xuan)及計(ji)數功能

顯示器 320×240點陣圖形(xing)LCD顯(xian)示

存儲器 可保存20組儀器設定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)

USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 LAN(LXI class C support)

RS232C

HANDLER

GPIB（選件）