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產品詳細頁
高低頻電容率介質損耗測試儀

高低頻電容率介質損耗測試儀

  • 產品型號:GCSTD-DII
  • 更新時間:2023-11-20
  • 產品介紹:高低頻電容率介質損耗測試儀GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法高低頻介電常數測試儀
    GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數和介質損耗角正切值的測定方法
    ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質)的交流損耗特性和介電常數的測試方法
  • 在線留言 /57223838

產品介紹

高低頻電容率介質損耗測試儀

GCSTD-DII

一、滿足標準:

GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法

GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數和介質損耗角正切值的測定方法

ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質)的交流損耗特性和介電常數的測試方法

二、高低頻電容率介質損耗測試儀技術要求:

接觸法:適用于厚度均勻、上下表面平整、光滑材料

電極類型:固定電極-測量電極φ38mm

測試頻率:20HZ-5MHZ

測試電極:黃銅電極

測試環境:室溫

三、軟件功能:

* 1、測試頻率可以掃描進行測試

*2、測試頻率可以單點測試

*3、測試頻率可以多頻設置測試

4、測試速度模式:快速、中速、慢速

5、測試數據與曲線顯示:

*6、電阻率—測試頻率

*7、絕對介電常數--測試頻率

*8、相對介電常數--測試頻率

*9、相對介電常數虛部--測試頻率

*10、相對介電常數實部--測試頻率

*11、介質損耗--測試頻率

*12、電容值--測試頻率


四 、測試電橋參數

測試參數 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR


測試頻率 20 Hz~5MHz,10mHz步進


測試信號電 f≤1MHz 10mV~5V,±(10%+10mV)


平 f>1MHz 10mV~1V,±(20%+10mV)


輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω


基本準確度 0.1%

0.0001 uH ~ 9.9999kH

0.0001 pF ~ 9.9999F

R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ~ 99.999 MΩ


顯示范圍 Y, B, G 0.0001 nS ~ 99.999 S

0.0001 ~ 9.9999

0.0001 ~ 99999

θ -179.99°~ 179.99°


測量速度 快速: 200次/s(f﹥30kHz) ,100次/s(f﹥1kHz)

中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校準功能 開路 / 短路點頻、掃頻清零,負載校準

等效方式 串聯方式, 并聯方式

量程方式 自動, 保持

顯示方式 直讀, Δ, Δ%

觸發方式 內部, 手動, 外部, 總線

內部直流偏 電壓模式 -5V ~ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進

置源 電流模式(內阻為50Ω) -100mA ~ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進

比較器功能 10檔分選及計數功能

顯示器 320×240點陣圖形LCD顯示

存儲器 可保存20組儀器設定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)

USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 LAN(LXI class C support)

RS232C

HANDLER

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